2026年9月15日，由RETC（美国可再生能源测试中心）主办的"PV Module UVID Technical Seminar"（光伏组件UVID技术研讨会）在浙江嘉兴举行。TCL中环组件产品中心可靠性策略负责人张宪哲先生应邀出席，并发表主题演讲《光伏组件UVID：测试方法及新技术影响评估》，系统分享了TCL中环在紫外诱导衰减（UVID）领域的研究成果与工程实践，重磅提出 "光转膜有效保护BC组件" 的可靠性解决方案，引发与会专家高度关注。

UVID：高效组件时代绕不开的可靠性考题

       随着TOPCon、BC、HJT等高效电池技术加速产业化，组件转换效率持续攀升，但紫外诱导衰减（UVID）正成为影响组件长期可靠性与行业可融资性（bankability）的关键议题。研究表明，高强度紫外辐照会破坏电池钝化层与界面结构（如Si-H键断裂、界面态激活、热载流子效应等），导致组件功率衰减；行业公开测试显示，部分新技术组件在标准UV老化剂量下衰减显著，对产品质量保证体系提出严峻考验。

       本届研讨会围绕UVID测试协议、缓解策略与可靠性基准展开深度探讨，正是行业对这一议题高度重视的缩影。

       研讨会上，张宪哲就中环在光伏组件可靠性领域的长期积累，从四个维度展开专业分享：

1、系统梳理UVID影响因素：从电池钝化结构、封装材料体系，到紫外光谱分布（UVB 占比）、温度协同等维度，全面解析UVID的发生机理与关键诱因；

2、提出测试方法建议：围绕加速老化测试与户外衰减的关联性、测试条件的一致性与标准化，提出务实可落地的评估建议，为行业建立统一UVID测试基准提供参考；

3、评估行业新技术影响：结合TOPCon、BC等高效技术路线的产业化进程，前瞻评估新技术导入阶段的UVID风险与防范要点；

4、提出TCL中环解决方案：明确光转膜对BC组件具有有效保护作用，为TCL Solar C2高效组件长期可靠运行提供系统性封装方案。

TCL中环解决方案：光转膜 "变害为利"，护航BC组件全生命周期可靠

       材料创新是化解UVID风险的治本之策。TCL中环提出的光转膜方案，通过将有害的紫外光下转换为电池可高效利用的可见光，在降低紫外辐照对电池及封装体系损伤的同时实现 "变害为利"——既有效保护BC组件的长期可靠性，又带来发电表现的增益，为BC组件全生命周期价值保驾护航。这一方案，再次印证了TCL中环"以可靠性构筑核心竞争力" 的技术理念。

       目前，TCL Solar BC、TOPCon多分片等产品，首年功率衰减＜0.8%，远超行业通用标准，为终端客户长期收益提供坚实保障。后续TCL中环将持续深化UVID等可靠性领域的技术研究，围绕不同技术路线组件的衰减特性优化封装解决方案，联合产业链上下游共同完善UVID测试规范与评价体系，助力全行业提升光伏产品长期发电稳定性，推动光伏产业在高效化、规模化的发展道路上稳步前行。

       TCL中环始终坚持技术驱动与质量优先，深度参与行业标准研讨与前沿技术交流，持续输出TCL中环在可靠性领域的智慧。此次受邀在RETC国际研讨会上分享UVID 研究成果，是行业对TCL中环可靠性技术实力的充分认可。未来，TCL中环将继续携手产业链伙伴，共建高效、可靠的绿色能源生态，推动光伏行业高质量发展。